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IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik · DE403 · DE · Offenes Verfahren
Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.
| Los | Bezeichnung | Menge | Wert |
|---|---|---|---|
| 1 | Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers | — | — |
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| Vergabestelle | IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik |
| Verfahrensart | Offenes Verfahren |
| CPV-Code | 38540000 |
| Region | DE403 |
| Land | DE |
| Veröffentlicht | 13.09.2026 |
| Zuletzt geändert | 14.09.2026 |
| Angebotsfrist | 13.10.2026 |
Quelle: TED – Tenders Electronic Daily (Amtsblatt der Europäischen Union). Procurento ist nicht die Vergabestelle, sondern stellt diese amtliche Bekanntmachung strukturiert dar.
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