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IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik · DE403 · DE · Offenes Verfahren
The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.
| Los | Bezeichnung | Menge | Wert |
|---|---|---|---|
| 1 | Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers | — | — |
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| Vergabestelle | IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik |
| Verfahrensart | Offenes Verfahren |
| CPV-Code | 38540000 |
| Region | DE403 |
| Land | DE |
| Veröffentlicht | 28.09.2026 |
| Zuletzt geändert | 30.09.2026 |
| Angebotsfrist | 29.10.2026 |
Quelle: TED – Tenders Electronic Daily (Amtsblatt der Europäischen Union). Procurento ist nicht die Vergabestelle, sondern stellt diese amtliche Bekanntmachung strukturiert dar.
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